T300V下照式镀层测厚仪

T300V是amjs澳金沙门线路首页集多年X荧光光谱仪技术积累与镀层应用经验，专门设计研发的 一 款下照式结构的镀层测厚 仪，性价比高、适用性强。

该款采用先进的FP算法同时搭配高速数字多道技术，  应对各大小平面件、曲面件金属镀层及电镀液检测时检出 限低，性能稳定，检出限可达0.005um，是一款颇具客户 好评的C型腔体设计的实用型膜厚仪。

应用领域

顶尖配置，值得更优性能

相比图2普通接收器，T300V采用了更为先进的高分辨率探测器，能完美的将不同元素的信号准确 解析，针对单层、多层或复杂合金镀层的测量，测量精度更高，稳定性更好。

仪器参数 

选择T300V的理由

检测实例